我室张志杰教授、尹武良特聘教授参加2019年度IEEE国际仪表与测量技术大会

    2019年5月19日至23日，我室张志杰教授、尹武良特聘教授赴新西兰奥克兰参加2019年度IEEE国际仪表与测量技术大会(2019 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference)。该大会是IEEE国际仪表与测量协会(IEEE Instrumentation and Measurement Society)的年度旗舰会议，是仪器仪表与测量技术领域水平最高、影响力最大的国际学术会议，已举办35届。大会邀请澳大利亚首席科学家Alan Finkel作了大会报告“The Measure of an Incurable Engineer”，组织了现代仪器进展、数字获取系统、测量理论与计量学、测试方法与无损检测仪器等二十多个分会，其中张志杰课题组撰写的“Improved Method of Excitation Signal in Transient Temperature Calibration System Based on Laser” 在测量理论和计量学分会作了口头报告，“Metal surface defect detection system based on semiconductor laser and infrared thermal imaging”进行了张贴汇报。会议期间，张志杰教授、尹武良特聘教授与来自英国曼彻斯特大学、纽卡斯尔大学，新西兰标准实验室，以及天津大学、中科院工程热物理研究所，台湾仪器科技研究中心等单位的专家、学者进行了学术交流。